【線上研討會】6/5 Polytec 粗糙度解析 (ISO 21920與ISO 25178標準解釋.
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粗糙度解析 線上研討會
依照 ISO 21920 與 ISO 25178 標準解釋、加工與檢測表面粗糙度
活動時間：
2025年 6月5日 星期四 ( 下午：17:00~18:00 )
ISO 21920 對您的品質控制有何意義？
表面粗糙度會直接影響產品性能，而隨著 ISO 21920 標準的發布，粗糙度評估邁入全新時代。但相較於 ISO 4287 和 ISO 25178，究竟有哪些變化？而您又該如何在實務中應用這些變更？
只需一小時，您就能在我們的免費線上研討會中了解如何實際應用這些變更，以及如何判斷該使用 2D 還是 3D 輪廓測量技術。
加入我們的線上研討會來了解：
✔ ISO 21920 與 ISO 4287 和 ISO 25178 相比的主要變化
✔ 2D 已足夠 – 3D 輪廓測量法可帶來附加價值
✔ 實際測量範例和實作技巧
如何進行：表面粗糙度與表面加工品質的2D與3D輪廓量測比較
除了符合加工中的幾何規格（形狀和位置公差）外，工件的表面光潔度對於功能和品質也起著關鍵作用。表面粗糙度要求可以從<1奈米[nm]到幾微米[µm]變化幾個數量級。什麼是粗糙度，如何定義？ISO 25178中相關內容為何？新標準ISO 21920意味著什麼？如何在日常品質控制中解讀和實施？本次免費網路研討會專門為所有有興趣提高其在輪廓分析、品質工程、表面檢查和粗糙度測量方面的水平的工程師、技術人員和設計師。我們的 PolyXpert Joe 將指導您，總結常見的問答，並提供提示和技巧 - 適合初學者、使用者和專家。
演講者：喬·阿姆斯特朗
喬·阿姆斯壯 (Joe Armstrong) 在英國貝德福德郡接受教育，獲得電腦電氣工程學位，之後開始從事光學技術和計量業務30 多年的職業生涯。 Joe 在動態（振動）和靜態表面形貌的雷射技術、光學和光學計量方面擁有豐富的經驗，現在是我們德國 Polytec 總部表面計量小組的國際 PolyXperts 之一，也是愛好者。
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