Reliability Science and Technology (ReST) in ANSYS

摘要：

ReST 是基於基礎科學和現有技術，用於協助評估電子設備的可靠性（例如電遷移）。ReST 還提供應力條件進行加速壽命測試（ALT），以確保有效推斷正常使用條件下的結果。然後，通過加速壽命測試結果和模擬結果，我們可以進行微調，獲得更準確的模型參數。利用這些參數，我們可以確定基於物理的加速因子，以預測產品在其他使用條件下的壽命。...作品詳情

學校：長庚大學 可靠度科學技術研究中心

指導教授：陳始明 教授 （2021全球前 2% 頂尖科學家）

組員：Rajarshi Sakar，Debraj Banerjee

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