Polytec 白光干涉儀

“看清”表面

白光干涉儀是三維表面形貌檢測量測儀，為具有高精度與可靠性應用於表面功能檢測的理想量測解決方案。TopMap表面計量系統可用於量測三維輪廓，分析評估平面度、平行度和波紋度等形狀參數，並根據紋理、粗糙度輪廓等來表徵表面結構，是表面計量為實驗室和生產環境中可靠的品質控制提供的基本值。

白光干涉量測技術 (White-light interferometry)

現代白光干涉儀使用從樣品反射的光與高精度參考鏡反射的光疊加時產生的干涉效應。測量方法是基於邁克爾遜干涉測量法的原理，其中光學配置（影像）包含相干長度在μm範圍內的光源。

彩色共焦技術 (Chromatic Confocal Technology)

用於距離、粗糙度線輪廓和厚度光學測量的彩色共焦技術已成為工業和研究領域可用的成熟方法之一。

Polytec 非接觸表面表面量測

Polytec 創立於 1967 年，致力於研究和工業開發、生產和研發光學測量技術解決方案。優質的創新產品在國際專家界享有盛名。Polytec 專注於測振（Vibrometry） ，測速（Velocimetry），3D表面量測（3D Surface Metrology），影像處理（Image Processing）等光學系統技術領域。

技術指引: 如何選擇白光干涉儀合適機種 [下載]

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詳細細節 請聯繫虎門服務人員 Dr Leo Wu.